Valencia acogerá una jornada internacional sobre los avances en la detección de ‘Xylella fastidiosa’

El próximo 17 de septiembre tendrá lugar en La Casa de la Ciencia del CSIC en Valencia (C/Batllia) una nueva jornada internacional sobre Xylella fastidiosa, en la que se abordarán los avances en la detección de la bacteria. 

La jornada, que está organizada por la red CYTED IBER-XYFAS y coordinada por el Instituto Valenciano de Investigaciones Agrarias (IVIA) y el Instituto de Biología Integrativa de Sistemas I2SysBio (Universitat de València-CSIC), se desarrollará en dos sesiones.

Por un lado, la primera sesión que se centrará en la Xylella fastidiosa en América, tendrá lugar por la mañana y contará con la presencia de:

• Edson Bertolini (Universidade Federal do Rio Grande do Sul UFRGS, Brasil): X. fastidiosa en cítricos y otras plantas hospedadoras
• Raquel M. Haelterman (Instituto Nacional de Tecnología Agropecuaria, Instituto de Patología Vegetal, Argentina):  X. fastidiosa en olivo
• Carlos Alonso Chacón Díaz (Centro de Investigación en Enfermedades Tropicales, Universidad de Costa Rica): X. fastidiosa en un entorno endémico

La segunda sesión, centrada en la Xylella fastidiosa en Europa, se celebrará en horario de tarde y también contará con destacados ponentes e interesantes temas en los que profundizar:

• Maria Saponari (Institute for Sustainable Plant Protection, CNR, Bari, Italia): Protocolo europeo de diagnóstico
• Andreu Juan (Servei d’Agricultura, Conselleria de Medi Ambient, Agricultura i Pesca, Govern Balear, España): Reconocimiento de síntomas y protocolos de acción contra X. fastidiosa.
• Sergio Cubero (IVIA, Moncada, España): Detección de XF mediante sensores remotos.

Se puede consultar aquí el programa completo de la jornada. La inscripción es gratuita y puede hacerse hasta el 12 de septiembre, enviando un correo electrónico a: [email protected]