El próximo 17 de septiembre tendrá lugar en La Casa de la Ciencia del CSIC en Valencia (C/Batllia) una nueva jornada internacional sobre Xylella fastidiosa, en la que se abordarán los avances en la detección de la bacteria.
La jornada, que está organizada por la red CYTED IBER-XYFAS y coordinada por el Instituto Valenciano de Investigaciones Agrarias (IVIA) y el Instituto de Biología Integrativa de Sistemas I2SysBio (Universitat de València-CSIC), se desarrollará en dos sesiones.
Por un lado, la primera sesión que se centrará en la Xylella fastidiosa en América, tendrá lugar por la mañana y contará con la presencia de:
- Edson Bertolini (Universidade Federal do Rio Grande do Sul UFRGS, Brasil): X. fastidiosa en cítricos y otras plantas hospedadoras
- Raquel M. Haelterman (Instituto Nacional de Tecnología Agropecuaria, Instituto de Patología Vegetal, Argentina): X. fastidiosa en olivo
- Carlos Alonso Chacón Díaz (Centro de Investigación en Enfermedades Tropicales, Universidad de Costa Rica): X. fastidiosa en un entorno endémico
La segunda sesión, centrada en la Xylella fastidiosa en Europa, se celebrará en horario de tarde y también contará con destacados ponentes e interesantes temas en los que profundizar:
- Maria Saponari (Institute for Sustainable Plant Protection, CNR, Bari, Italia): Protocolo europeo de diagnóstico
- Andreu Juan (Servei d’Agricultura, Conselleria de Medi Ambient, Agricultura i Pesca, Govern Balear, España): Reconocimiento de síntomas y protocolos de acción contra X. fastidiosa.
- Sergio Cubero (IVIA, Moncada, España): Detección de XF mediante sensores remotos.
Se puede consultar aquí el programa completo de la jornada. La inscripción es gratuita y puede hacerse hasta el 12 de septiembre, enviando un correo electrónico a: [email protected]
